Złoty Medal na Międzynarodowych Targach Poznańskich

Innowacje – Technologie - Maszyny Polska 2011 w kategorii Transfer wyników badań naukowych do praktyki gospodarczej za Urządzenie laserowe do bezpośredniego naświetlania gęsto upakowanych schematów obwodów elektrycznych na płytkach drukowanych.

K. Garasz, R. Barbucha, M. Tański, M. Janke, M. Kocik, J. Mizeraczyk

Nagroda na X Krajowej Konferencji Elektroniki
w konkursie Młodzi pracownicy Nauki za pracę pt. „Naświetlanie schematów gęsto upakowanych połączeń elektrycznych na płytkach drukowanych”.

K. Garasz

Międzynarodowa Nagroda im. H. J. White'a
przyznana przez The International Society for the Electrostatic Precipitation podczas XII International Conference on the Electrostatic Precipitation w Norymberdze za wybitny wkład w dziedzinie podstaw i zastosowań techniki elektrostatycznego oczyszczania gazów.

J. Mizeraczyk

Nagroda na IX Krajowej Konferencji Elektroniki
w konkursie Młodzi pracownicy Nauki za pracę pt. „Zastosowanie nanosekundowej mikroobróbki laserowej do wykonywania metalowych elementów urządzeń MEMS”.

M. Tański

Złoty Medal na Międzynarodowych Targach Poznańskich w kategorii Transfer wyników badawczych do przemysłu za „Urządzenie do Laserowej Mikroobróbki Materiałów” - zobacz galerię MTP »

J. Mizeraczyk, M. Kocik, R. Barbucha, M. Tański

Nominacja do Złotego Medalu na Międzynarodowych Targach Poznańskich w kategorii Transfer wyników badawczych do przemysłu za „Urządzenie do bezpośredniego naświetlania laserowego płytek obwodów drukowanych”

J. Mizeraczyk, M. Kocik, R. Barbucha, M. Tański

Nagroda ECS Prize for runner-up poster presentation na International Conference on Electrostatics, School of Electronics and Computer Science, University of Southampton, Wielka Brytania

M. Kocik

Honorowy tytuł Visiting Professorship, Dalian Maritime University, Chiny

J. Mizeraczyk

Nagroda Innovation and Creativity Prize Paper Award za artykuł “Wide Range Two-dimensional Imaging of NO Density Profiles by LIF Technique in a Corona Radical Shower Reactor”, IEEE, USA

M. Kocik, J. Mizeraczyk